16F AR コーティング SN MT テスト ケーブル

01・リファレンス面

試験装置の接続

非テスト端は、選択した機器ポート、基準ケーブル、アダプタ、または実験室用テスト治具に接続します。-

02・テストサイド

AR-コーティングされた SN-MT インターフェース

DUT- に面した 16F SN- MT コネクタは、制御された非接触光結合のために凹型の AR{3}} コーティングされた光インターフェースを使用しています。-

03・DUT側

高密度デバイス インターフェース

ケーブルは、光モジュール、CPO- 指向のテスト フィクスチャ、並列光アセンブリなどの指定された SN{0}} MT デバイス インターフェースと接続します。-

繰り返し嵌合位置を考慮した設計-

テスト リンクでは、DUT 接続は他のインターフェイスよりもはるかに頻繁に接続および切断されることがよくあります。 AR- コーティングされた SN- MT 端をこの位置に配置すると、DUT- に面した接続でのファイバー-コアの直接接触を減らしながら、より制御された測定インターフェースを作成できます。

片面-または両面-のテスト インターフェース

AR- コーティングされたインターフェースは、リンク トポロジ、基準接続の場所、頻繁なテスト サイクルを必要とするインターフェースに応じて、ケーブルの一方または両方の端に適用できます。

AR-コーティングされた非接触テスト インターフェース-

凹型の AR{0}} コーティングされたファイバー端面は、制御された非接触光インターフェースを作成し、フレネル反射を低減し、テスト中のファイバー コアへの直接接触を最小限に抑えます。-

16F SN-MT VSFF テスト インターフェース

コンパクトな 16F SN-MT インターフェースは、SN- フォーマットの設置面積で高精度 MT フェルールを使用し、並列光テスト用の高密度リファレンス接続を提供します。-

DUTを保護し、試験を安定化します

このケーブルを試験装置と被試験デバイスの間に配置すると、繰り返し嵌合する際の DUT 端面の摩耗、挿入損失ドリフト、反射-に関連する測定値の変動が軽減されます。{0}}

CPO とオンボード リンクの検証-

SN-MT は、CPO- 指向システムのエッジ、ボード上、バックプレーンでの高密度接続に使用されます。このテスト ケーブルは、高密度リンクを評価するための適合するリファレンス インターフェースを提供します。-

高速データセンターのテスト-

IL/RLテスト

極性テスト

端面テスト-

温度試験